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测量与评价金属材料特定适应性于超声波辅助切削工艺:基于能量的方法论
•开发了一套专用的超声辅助正交切削系统,用于研究金属材料对超声辅助的适应性。•从能量角度提出了一种新的定量指标,用于评估超声对工件材料的影响。•与传统的可加工性评估方法相比,结合切削力和切削长度的新能量基方法在量化超声对可加工性的影响方面更加稳健和高效。引言超声振动辅助加工(
来源:Measurement
时间:2026-08-20
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面向重载铁路转向架类增量故障诊断的回放与几何正则化方法
- 将渐进式转向架故障表述为一种类增量任务。
- 开发了一种重放增强的转向架故障诊断方法。
- 非对称球面正则化提高了特征稳定性。
- 该方法在增量学习期间增强了类可分性。
- 该框架支持新出现的转向架故障的长期诊断。
引言
随着铁路运输不断向高速和重载方向发展,重载列车
来源:Measurement
时间:2026-08-20
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调制双轴SERF原子磁力计的自旋反馈增强方法
**摘要**
•首次在调制型双轴SERF磁力计中实现了自旋反馈。
•建立了参数调制下反馈修正自旋动力学模型,揭示了自旋反馈与调制之间经由贝塞尔函数介导的耦合机制。
•自旋反馈增强了双轴响应并改善了灵敏度一致性。
**引言**
近年来,原子传感器发展迅速,在精密测量和传感
来源:Measurement
时间:2026-08-20
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一种兼具可靠性和可测试性感知能力的低开销SEU韧性锁存器设计,采用版图感知的短路缺陷建模方法
摘要纳米级 CMOS 电路中的时序元件容易受到辐射引起的单粒子翻转(SEU)的影响。大多数加固锁存器设计依赖单元内冗余来实现抗软错误能力,但这种冗余可能会掩盖内部缺陷,导致缺陷逃逸并降低抗软错误能力。现有的扫描测试感知设计,如 STAHL、HIDER 和 LOSTA,通过可测
来源:Microelectronics Journal
时间:2026-08-20
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一种结合阶跃响应与脉冲响应的电缆缺陷定位时频变换方法
•提出了一种基于双重积分的时频变换方法,用于从宽带反射谱重建阶跃响应和脉冲响应。•引入低频反射系数预测方法,以增强时域响应中弱缺陷的可观测性。•构建了多场景电缆模型,用于分析阻抗变化模式并评估频谱重建的影响。•实验室测试表明,缺陷定位误差在0.07%以内,且能准确识别分布性阻
来源:Measurement
时间:2026-08-20
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基于多层感知器的智能轮胎三轴轮胎力估计新方法
• 基于加速度计的智能轮胎硬件设计。
• 复合滑移条件下加速度信号特性分析。
• 一种提取轮胎加速度的新数据处理方法。
• 基于多层感知机(MLP)的模型实现轮胎三向力的同时估算。
• 全面的消融实验以探究模型性能边界。
引言
作为车辆与道路之间的唯一接口,接地印痕处产生的
来源:Measurement
时间:2026-08-20
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同步复位PFM CMOS图像传感器的阶梯量化响应与噪声特性分析及其性能评估方法
# 基于脉冲频率调制的同步复位CMOS图像传感器:阶梯量化响应与噪声抑制特性分析
## 摘要
具有同步复位的脉冲频率调制型互补金属氧化物半导体图像传感器(PFM CIS)具有低数据量和噪声抑制的优势。然而,由于复位和读出被限制在固定的采样间隔内,连续的photocurre
来源:Microelectronics Journal
时间:2026-08-20
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一种紧凑且节能的、具备机器学习抗干扰能力的强大物理随机函数(PUF),采用交叉连接的亚阈值电流求和技术实现
摘要
尽管强物理不可克隆功能(PUFs)通过利用非线性架构来增强机器学习(ML)的弹性,但在功耗、读取可靠性和面积的开销之间取得平衡仍然是一个关键挑战。为了克服这一瓶颈,本文提出了一种交叉连接的亚阈值电流求和PUF(CICS-PUF)。CICS-PUF利用交叉连接网络建立非线性乘
来源:Microelectronics Journal
时间:2026-08-20
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JUE洞察:抵押贷款承销中的技术创新与信贷增长(1985–2015年)
**摘要**
我们重新审视了抵押贷款债务与收入之间关系的演变,补充了超越2000年代房地产繁荣时期的相关研究文献。我们的分析揭示了20世纪90年代购买抵押贷款金额与借款人收入之间的相关性出现永久性下降,并且这一下降在2000年代房地产繁荣之前就已经基本完成。我们将这种债务-收
来源:Journal of Urban Economics
时间:2026-08-20
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通过电脉冲处理技术,显著提升了激光增材制造的Ti-10Mo-6Al-1.5Zr合金的塑性和耐腐蚀性能
**摘要**
additively manufactured metastable β 钛合金存在固有的强度与延展性之间的严重权衡问题,以及耐腐蚀性不足的问题,这些问题源于超快凝固引起的非平衡微观结构和高密度的晶体缺陷。传统的热处理方法依赖于热激活的原子扩散,但在调控缺陷结构
来源:Journal of Manufacturing Processes
时间:2026-08-20