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本研究通过活体纵向双光子成像技术,首次揭示了内侧前额叶皮层神经元轴突起始段(AIS)在恐惧消退学习过程中发生动态结构重塑。研究人员发现AIS长度变化与神经元兴奋性调节密切相关,且不同AIS可塑性集群参与记忆印迹网络的形成,为理解学习记忆的细胞机制提供了新视角。
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