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来自国际前沿团队的研究人员针对纤锌矿铁电体(如ScGaN)中畴壁构型与电子结构不明的科学难题,通过透射电镜(TEM)与密度泛函理论(DFT)计算,首次揭示了带电畴壁的二维六方相 buckling 结构及其禁带中隙态(mid-gap states)的形成机制,提出极化不连续性的电荷补偿原理,并实验验证畴壁电导可重构性,为超微型器件开发提供新范式。
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