氮化镓(GaN)是一种关键的第三代半导体材料,具有优异的性能,包括宽禁带、高击穿场强、优异的热导率、较高的电子饱和速度和良好的化学稳定性。这些特性使得GaN器件能够在极端条件下可靠运行——如高温、高压、高功率、高频率和辐射环境中——从而广泛应用于电力电子、5G通信、军事雷达、LED照明、激光器和航空航天技术[1], [2], [3], [4], [5], [6], [7], [8], [9]。
N-GaN和SI-GaN衬底被广泛用于微电子设备中,包括蓝绿色LED、HEMTs、激光二极管和功率放大模块。尽管这些器件已经实现了大规模生产,但其性能极限和安全工作范围在很大程度上取决于热管理。在300 K以上的温度下,GaN的热导率会随着温度的升高而逐渐降低。这种降低会导致高压操作期间的严重自热效应,从而引起内部温度上升,降低性能,影响稳定性,并可能造成器件失效——这是实际应用的主要技术障碍[10], [11], [12], [13], [14], [15]。
尽管在GaN热研究方面取得了进展,但关于掺杂单晶变体的热导率的系统实验数据仍然有限。随着GaN衬底在高温应用中的普及,沿c轴的热导率引起了广泛关注[16]。本研究系统地研究了不同电导率类型的GaN的热导率,并使用CASTEP软件进行了密度泛函理论(DFT)计算进行了补充。