接受立体脑电图（stereo-EEG）检查的儿童中，刺激诱发癫痫发作的皮质及病因学决定因素

本研究系统评估78例儿童药物难治性局灶性癫痫SEEG手术中低频（1-3Hz）和高频（50Hz）刺激诱发癫痫发作（SISs）的关联因素。结果显示SISs总发生率43.6%（低频21.8% vs 高频32.1%），FCD IIb病灶与高频SISs显著相关（p=0.001），刺激类型与皮质分层（p=0.005）相关，且SISs与Engel Ia术后效果呈边际正相关（p=0.046）。该研究首次建立儿童SEEG刺激诱发癫痫的预测模型，为优化SEEG方案提供依据。

摘要

目的

在立体脑电图（SEEG）过程中进行的电刺激用于癫痫手术候选者的功能定位和癫痫发作诱发。然而，其在儿童群体中的效果尚未得到充分研究。本研究的目的是描述接受SEEG治疗的儿童中由刺激引起的癫痫发作（SISs），并评估其与刺激参数、大脑皮层结构、病因及手术结果之间的关联。

方法

我们回顾性分析了78名患有药物难治性局灶性癫痫的儿童（癫痫发作时的中位年龄为2.8岁，标准差为4.4岁），这些儿童接受了低频（1–3 Hz）和/或高频（50 Hz）刺激的SEEG治疗。将SISs分为低频癫痫发作（LF-ISs）和高频癫痫发作（HF-ISs），并根据解剖部位、细胞结构、大脑皮层层次结构和病因进行分类。术后结果采用Engel分类进行评估。

结果

43.6%的患者出现了SISs（LF-ISs占21.8%，HF-ISs占32.1%）。局灶性皮质发育不良II型（FCD II）——尤其是FCD IIb——与SISs显著相关（LFS：p = 0.016；HFS：p = 0.001）。发作间期的SEEG生物标志物（如“刷状波”和抑制现象）能够预测SISs的发生（p = 0.002）。LF-ISs主要发生在眶额叶和岛叶区域，而HF-ISs则多见于扣带回和中央区域（p = 0.029）。刺激类型与大脑皮层层次结构相关（p = 0.005），但与细胞结构无关。SISs与良好的手术结果（Engel Ia级）存在微弱关联（p = 0.046）。

意义

这是首次系统地评估儿童群体中SISs的研究。研究结果表明，SISs——尤其是在FCD II型和异质性大脑皮层区域——可能作为癫痫发作的生物标志物和手术结果的预测因子。这些发现可以为儿童癫痫手术中的SEEG计划和解读提供指导。

利益冲突声明

N.S. 曾在GW Pharma、BioMarin、Arvelle和Takeda的科学顾问委员会任职；曾接受Eisai、Biomarin、Livanova和Sanofi的演讲酬金；并曾担任Zogenix、Marinus、Biomarin、UCB和Roche的研究员。其余作者没有利益冲突。

数据可用性声明

作者确认，支持本研究结果的数据可在文章及其补充材料中找到。