综述:克服失败:提高植入式神经接口的接受度和成功率

时间:2025年3月15日
来源:Bioelectronic Medicine

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植入式神经接口(NI)虽有成效,但面临挑战,本文综述其现状、问题及解决方法。

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植入式神经接口概述

植入式神经接口(NI)作为一类电子设备,能与神经系统相互作用,通过感知(记录)或刺激神经活动来治疗神经疾病。与其他植入式生物电子设备不同,它被植入神经组织(如大脑、脊髓或周围神经)中或附近。像耳蜗植入、深部脑刺激(DBS)、脊髓刺激(SCS)等多种神经接口已获市场批准并成功应用于临床数十年。这些设备的主要组件包括脉冲发生器(用于刺激)和 / 或数据采集(DAQ)设备(用于记录)、电源和通信模块、封装、导线和互连以及电极。尽管植入式 NI 取得了一定成果,可改善许多患者的健康和生活质量,但各组件都可能成为潜在的故障源,面临着技术、机械和生物学等多方面的挑战。

面临的挑战

  1. 技术和机械故障:植入式脉冲发生器和 DAQ 通常由电池和电子元件组成。完全植入式的刺激器和记录 DAQ 虽避免了经皮导线带来的感染风险,但电池更换或充电问题成为难题。若电池不可充电或最终失去充电能力,就需要进行 revision 手术。而且,复杂系统对电力需求大,会增加电池负担,还可能导致设备体积增大,引发皮肤问题,如皮炎或压疮。此外,无线通信的功率消耗也会影响电池寿命,同时维持气密密封和防止引线损坏也是技术难点。引线易受机械疲劳影响,出现断裂、绝缘层破裂等问题,进而导致电气泄漏和设备故障。电极方面,其制造工艺差异可能导致质量问题,且电极几何形状会影响电荷分布,引发不可逆反应,造成电极腐蚀和组织损伤。
  2. 生物反应:任何植入体内的异物都会引发异物反应,影响 NI 的疗效。在中枢神经系统(CNS)中,植入设备会破坏血脑屏障(BBB),导致免疫细胞浸润、神经元损伤和组织炎症。巨噬细胞、微胶质细胞等免疫细胞会释放炎性因子,损害电极材料和神经组织,最终形成胶质瘢痕,降低信号质量。在周围神经系统(PNS)中,植入设备会引起创伤和血管损伤,导致血浆蛋白吸附、炎症细胞浸润,最终形成纤维性瘢痕,增加电极 - 组织界面的阻抗。
  3. 微和宏观运动:引线和电极的迁移可能由张力或重力引起,会导致设备故障,还可能损伤周围结构。宏观运动如脊髓相对于脊柱的运动,会影响电极稳定性;微观运动如呼吸、心跳等引起的组织微动,会导致组织损伤和神经元损失,降低记录信号质量。

临床影响及分级

当植入式 NI 发生故障时,会产生临床后果,包括治疗效果丧失、症状复发或出现新的并发症,如感染、组织损伤等。并发症可分为严重不良事件(SAEs)和不良事件(AEs),但两者界限模糊。为了更好地指导临床决策,根据 Clavien - Dindo 分级系统,制定了针对植入式 NI 故障导致的临床并发症严重程度的分级指南,从轻微的疗效损失到威胁生命的并发症都有明确的分级和示例。

慢性测试以提高设备寿命

为确保植入式 NI 的可靠性,需要进行全面的测试,包括台式测试、急性和慢性体内测试,以及计算建模。通过这些测试,可以识别故障模式,评估设备性能和组织反应。例如,对引线进行疲劳测试,对电极涂层进行附着力测试,对设备进行加速老化测试等。在体内测试中,使用与临床相关的动物模型,监测设备在不同时间点的功能和物理完整性,通过电化学测量、电生理测量等方法评估电极 - 组织界面的变化,以及监测炎症反应等。

未来展望

随着纳米工程、材料科学、电磁学和光遗传学等领域的技术进步,植入式 NI 的未来充满希望。通过慢性体内实验,可以识别故障模式并采取创新解决方案。例如,使用转基因小鼠模型研究基因对 NI 性能的影响,采用新的手术方法减少组织创伤,开发新型材料和电极设计提高生物相容性,探索新的无线通信和能量传输技术等。此外,还需考虑软件和数据相关的问题,如编程方法的改进、数据安全和伦理问题等。

结论

植入式神经接口在治疗多种疾病方面已取得显著成功,但仍面临机械、技术和生物学等多方面的障碍。通过材料科学和工程的进步,以及慢性体内测试的不断优化,可以提高设备的长期生物相容性,推动植入式神经接口在临床中的广泛应用,为更多患者带来福祉。

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