通过常压化学气相沉积(CVD)合成二维VS 2单层结构:硫引入时间的作用

时间:2026年2月3日
来源:Journal of Crystal Growth

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2D VS₂单层片通过大气压化学气相沉积法合成,优化硫蒸气引入时间与生长温度关系,获得70微米大尺寸三角状H相VS₂单层片,为二维材料制备提供新方法。

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阿比谢克·库马尔·潘迪(Abhishek Kumar Pandey)| 阿贾伊·库马尔·米什拉(Ajay Kumar Mishra)
印度普杜切里国家理工学院(National Institute of Technology, Puducherry)物理系,卡拉卡尔609609

摘要

二维二硫化钒(VS2)属于过渡金属硫族化合物(TMDCs)家族,是电子和光电子领域低维器件应用中的关键材料。此外,它还为研究其在室温下的固有磁性质提供了机会。然而,迄今为止,利用偏钒酸钠(NaVO3)作为钒(V)的来源、硫(S)作为硫的来源来合成纯单层VS2薄膜/片材的方法尚未得到广泛研究。本文介绍了通过常压化学气相沉积(APCVD)方法制备二维VS2单层片材的过程。所得VS2片材的最大尺寸约为70微米。我们发现,优化硫蒸气引入时间与生长温度的关系可以制备出较大、呈三角形状的VS2片材。我们的方法为使用APCVD方法合成其他二维材料打开了大门。

引言

近年来,人们对合成原子级薄的二维(2D)过渡金属硫族化合物(TMDCs)表现出了极大的兴趣,这些化合物的一般化学式为MX2(M = Mo, W, V等;X = S, Se, Te),因为它们在电子和光电子应用中具有广泛用途[1]。单层TMDCs与其块状对应物的性质不同,因为它们缺乏反演中心,并表现出范德华相互作用[2]、[3]。二维TMDCs家族包括超导体(如NbS2、NbSe2等)[4]、[5]、半导体(如MoS2、WSe2、H相VS2等)[6]、[7]以及金属(如T相VS2等)[8]、[9]。这些特性使得二维TMDCs成为未来电子和器件应用的理想选择。
研究人员对VS2表现出浓厚兴趣,因为它具有迷人的性质,例如室温下的铁磁性[10]和金属-绝缘体转变行为[11]、[12]。VS2有两种相:T相和H相。T相VS2的优异电催化活性和高导电性吸引了大量研究关注。据预测,单层H相VS2和T相VS2在T = 410至530 K之间会发生相变[8]。这一发现强烈表明,即使在室温下,单层H相VS2也应比T相VS2更稳定。H相VS2的半导体性质及其较大的磁矩最近也受到了关注[8]、[13]。尽管进行了多项理论研究,但由于钒硫化物系统中的多种化学计量比(如V2S3、V2S8和VS2),合成H相VS2仍然具有挑战性[14]。单层H相VS2的生长更为困难,而且这些相在高温下容易相互转化,限制了其实际应用。开发一种可靠且经济的方法来制备大尺寸的单层H相VS2对于充分发挥VS2在下一代光电子和器件应用中的潜力至关重要。近年来,化学气相沉积已成为制备二维材料的常用技术,相比之下,其他合成方法需要中等压力、高温和较长的反应时间[15]。CVD因其易于使用和符合行业标准而受到青睐。它能够生成无污染的优质晶体样品,并具有工艺扩展的潜力[16]。
Jianwei等人最近使用熔盐辅助的CVD方法在云母基底上制备了单层H相VS2,其横向尺寸可达250微米,他们使用硫粉作为硫的来源,V2O5 + KCl混合物作为钒的来源[17]。Shuo Zhang等人也使用APCVD方法在原始蓝宝石基底上制备了横向尺寸为23微米的单层和双层H相VS2纳米片材[18]。然而,这些VS2制备过程中使用的盐辅助CVD技术会导致VS2薄膜或片材受到不必要的污染。2023年,A. Srivastava等人[18]使用NaVO3和S作为钒和硫的前驱体,通过常压CVD合成了二维VS2单层,但所得片材的最大尺寸仅为26微米。为了解决上述问题并增大片材尺寸,我们提出了一种APCVD方法,在Si/SiO2基底上制备无杂质的H相VS2单层。该方法中,钒的来源是NaVO3,硫的来源是硫粉。在本文中,我们介绍了一种使用优化的APCVD技术在Si/SiO2基底上制备大规模单层H相VS2薄膜的受控合成方法。
在这里,我们系统研究了硫引入时间与VS2生长温度之间的关系。在二维VS2的合成过程中,引入硫蒸气并保持富硫环境有助于形成较大、呈三角形状的VS2片材,这些片材的密度各不相同。此外,为了说明某些因素对沉积结果的影响,我们强调了硫输入时机和生长时间等要素的重要性。通过光学显微镜和扫描电子显微镜(SEM)研究了制备的VS2片材的形态,利用拉曼光谱确定了片材的层结构和性质,原子力显微镜用于测量VS2片材的厚度,拉曼成像用于验证片材的均匀性。

实验细节

我们从Sigma-Aldrich购买了纯度为99.95%的硫(S)和纯度为99%的偏钒酸钠(NaVO3)粉末。使用的SiO2基底(300纳米,单面抛光,直径2.5英寸)购自Vritra Technologies。石英坩埚(长度8厘米)购自Ants Ceramics Ltd。通过APCVD工艺制备了二维二硫化钒(2D VS2)薄膜。

表征

使用Zeiss-Axio光学显微镜观察了合成样品的光学形态。利用操作电压为10 kV的FESEM-Hitachi设备研究了表面形态。使用激发波长为532纳米的Horiba Lab Ram HR光谱仪获取了拉曼特征光谱。为了测试薄膜的质量和厚度,还使用了原子力显微镜(Park NX20)。

发现与分析

APCVD设备和实验过程的详细信息见实验细节部分。图2展示了一个温度曲线图,大致表示了合成温度、生长时间和H1与H2之间的切换延迟等变量,旨在探讨合成高质量二维VS2片材的理想条件。如图2所示,温度曲线图确保了二维VS2片材的生成。

总结

本文强调了硫蒸气引入时间对二维VS2薄膜成核和生长的影响。在适当时刻维持理想的硫蒸气供应有助于形成原子级薄的单层二维VS2薄膜或片材。具体来说,在冷却阶段调节硫蒸气的供应有助于在基底的不同位置形成大量的三角形状VS2单层片材。这项全面的研究突出了关键因素……

作者贡献声明

阿比谢克·库马尔·潘迪(Abhishek Kumar Pandey):负责撰写初稿、可视化处理、软件开发、方法设计、实验研究、数据分析、概念构思。阿贾伊·库马尔·米什拉(Ajay Kumar Mishra):负责审稿与编辑、结果验证、项目监督、资源协调、实验研究及概念构思。

利益冲突声明

作者声明他们没有已知的财务利益冲突或个人关系可能影响本文的研究结果。

致谢

我要感谢普杜切里国家理工学院(NIT Puducherry)和印度政府的财政支持。同时,我也感谢IIT Bombay的中央研究设施(CRF)为本研究提供了各种样品的表征服务。

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